Laboratoire de Physique et Chimie des Nano-objets

Institut National des Sciences Appliquées
135 avenue de Rangueil, 31077 TOULOUSE CEDEX 4 - FRANCE
Tél : 00 33 05 61 55 96 45 | Fax : (+33) (0)5 61 55 96 97

Partenaires

CNRS
INSA


Choisir la langue du site


          Version Française           English Version

Rechercher

Sur ce site



Accueil du site > LPCNO > Publications > Articles > 2013 > Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO2 nanolayers

E M F Vieira, R Diaz, J Grisolia, A Parisini, J Martin-Sanchez, S Levichev, A G Rolo, A Chahboun and M J M Gomes.

Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO2 nanolayers

J. Phys. D : Appl. Phys. 46 (2013) 095306

Dans la même rubrique :