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Caractérisation de nanostructures et nanodispositifs électroniques par microscopie à sonde de force

Date : 05/11/2009 à 14:00

Titre : Caractérisation de nanostructures et nanodispositifs électroniques par microscopie à sonde de force

Intervenant : THIERRY MELIN

Provenance : Institut d’Electronique de Microélectronique et de NanotechnologieIEMN-CNRS UMR 8520, Villeneuve d’Ascq

Salle : 221

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