Date : 05/11/2009 à 14:00
Titre : Caractérisation de nanostructures et nanodispositifs électroniques par microscopie à sonde de force
Intervenant : THIERRY MELIN
Provenance : Institut d’Electronique de Microélectronique et de NanotechnologieIEMN-CNRS UMR 8520, Villeneuve d’Ascq
Salle : 221