Laboratoire de Physique et Chimie des Nano-objets

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Accueil du site > LPCNO > Publications > Articles > 2007 > Photoluminescence spectroscopy and transport electrical measurements reveal the quantized features of Si nanocrystals embedded in an ultra thin SiO2 layer

C.Dumas, J.Grisolia, M.Carrada, A.Arbouet, V.Paillard, G.Ben Assayag, C.Bonafos, S.Schamm, A.Claverie.

Photoluminescence spectroscopy and transport electrical measurements reveal the quantized features of Si nanocrystals embedded in an ultra thin SiO2 layer

Phys. stat. sol. C, Phys. stat. sol. C 4, No. 2, 311– 315 (2007) / DOI 10.1002.

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