Accueil du site > LPCNO > Publications > Articles > 2014 > Small Angle X-ray Scattering Coupled With in-situ Electromechanical Probing of Nanoparticle-Based Resistive Strain Gauges
N. Decorde, N. M. Sangeetha, B. Viallet, G. Viau, J. Grisolia, A. Coati, A. Vlad, Y. Garreau, L. Ressier
Voir en ligne : Nanoscale, 6, 15107-15116 (2014).
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