Laboratoire de Physique et Chimie des Nano-objets

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Accueil du site > LPCNO > Publications > Articles > 2013 > Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO2 nanolayers

E. M. F. Vieira, R. Diaz, J. Grisolia, A. Parisini, J. Martin-Sanchez, S. Levichev, A. G. Rolo, A. Chahboun and M. J. M. Gomes.

Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO2 nanolayers

J. Phys. D : Appl. Phys. 46, 095306 (2013)

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